所用設(shè)備
儀器:CTX(5Kg負(fù)載單元)
附件:2 mm Cylinder Probe (TA-39)
軟件:Texture Pro軟件
測(cè)試類型:Compression壓縮
測(cè)前速度:0.5 mm/s
測(cè)試速度:1.0 mm/s
測(cè)后速度:4.5 mm/s
目標(biāo)類型:Distance
目標(biāo)距離:2 mm
觸發(fā)負(fù)載:5 g
如下是一個(gè)典型的CTX質(zhì)構(gòu)儀測(cè)試譜圖,顯示了面餅的硬度,脆性等指標(biāo)。
圖1:粉餅穿刺測(cè)試曲線圖(負(fù)載/時(shí)間)
硬度:測(cè)試過(guò)程中峰值最大力值;
第一斷裂衰減:代表產(chǎn)品脆性的層次性,衰減越大說(shuō)明脆性的層次感越弱;
斷裂性:產(chǎn)品發(fā)生第一次斷裂的力值,力值越大說(shuō)明越不容易斷裂。
測(cè)試結(jié)果如下:
通過(guò)圖1可知,當(dāng)探頭向下運(yùn)行直至達(dá)到粉餅表面的破裂點(diǎn)之前,應(yīng)力一直處于上升的趨勢(shì);到達(dá)破裂點(diǎn)時(shí),圖中顯示第一個(gè)應(yīng)力峰值;穿透表面后,測(cè)量的力值穩(wěn)步增加,直到測(cè)量到第二個(gè)峰值,峰值越大,說(shuō)明粉末的致密程度越高。
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